浅谈测试系统的抗干扰技术

• 作者: 柴春吉
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: 干扰源 干扰途径 测试系统
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 专题综述
• 页码范围: 14-15
• 页数: 2页
• 分类号: TM93
• 字数: 3223字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2004.04.007

摘要

本文从干扰形成的三要素人手,为提高测试系统的抗干扰能力提出了各种抗干扰的具体措施和方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柴春吉		1	10	1.0	1.0