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摘要:
用分子束外延(MBE)方法在GaAs表面量子阱上外延生长不同厚度的Al层,以超高真空下的原位光调制光谱(PR)作为测量手段,研究Al扩散形成的表面势垒层对于GaAs表面量子阱中带间跃迁峰位和峰形的影响.根据跃迁峰的变化,采用有效质量近似理论计算出了Al和GaAs的互扩散长度为0.5nm,这是半导体工艺中的一个重要常数.
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文献信息
篇名 Al/GaAs表面量子阱界面层的原位光调制反射光谱研究
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 Al GaAs 原位光调制反射光谱(PR) 分子束外延(MBE)
年,卷(期) 2004,(10) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 3521-3524
页数 4页 分类号 O4
字数 2659字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.10.053
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 袁先漳 温州师范学院物理与电子信息学院 2 4 1.0 2.0
2 缪中林 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家实验室 4 5 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
Al
GaAs
原位光调制反射光谱(PR)
分子束外延(MBE)
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
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