日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应

• 作者: 刘四清 刘静 张东和 萧佐 龚建村
• 来源期刊: 科学通报
• 学科: 地球科学
• 关键词: GPS TEC SITEC 耀斑 日照边缘区域
• 年，卷（期）: 2004,（14）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1351-1355
• 页数: 5页
• 分类号: P1
• 字数: 4489字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0023-074X.2004.14.002

摘要

利用国际GPS服务中心(IGS)的GPS观测数据,分析了2003年10月28日特大耀斑期间日照边缘区域的电离层总电子含量(TEC)的响应特点.计算结果表明,这是有相关记录以来最强烈的一次电离层总电子含量突增事件,在地面太阳天顶角80°到110°的空间范围内,观测到了明显的由耀斑辐射引起的总电子含量突增.在太阳天顶角90°区域的TEC增加值大约为7 TECU,在110度附近的总电子含量的增加值大约在1～2 TECU.总的来看,太阳天顶角越大,TEC增幅越小,但在天顶角大于90°的区域TEC随天顶角的减少的速度要大于天顶角90°以内的区域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘静	中国科学院空间环境与预报研究中心	279	2786	26.0	43.0
2	萧佐	北京大学地球物理系	16	439	9.0	16.0
3	张东和	北京大学地球物理系	27	509	10.0	22.0
4	龚建村	中国科学院空间环境与预报研究中心	56	280	10.0	13.0
5	刘四清	中国科学院空间环境与预报研究中心	79	273	10.0	11.0