粗糙表面轮廓的对角线切片谱分析

• 作者: 李成贵
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: 粗糙度 双谱 对角线切片谱 谱分析
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 机械科学
• 页码范围: 124-127
• 页数: 4页
• 分类号: TP84|TH161
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-132X.2004.02.009

摘要

针对双谱估计存在的计算量庞大、估计精度较差、显示不够直观等缺点,提出了一种改进的对角线切片谱分析方法,并把它用于粗糙表面轮廓的非对称性和耦合性特征分析.实验结果表明,该方法简单、合理,而且有可能揭示加工过程中引起表面粗糙度间距和高度参数变化的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成贵	北京航空航天大学自动化学院	91	890	16.0	25.0