PMN-PT弛豫铁电单晶畴结构的压电响应力显微术研究

• 作者: 余寒峰 初瑞清 曾华荣 李国荣 殷庆瑞 罗豪
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: PMN-PT单晶 铁电畴 压电响应力显微术
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 电功能材料及其应用
• 页码范围: 1322-1326
• 页数: 5页
• 分类号: TB34
• 字数: 2791字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2004.z1.371

摘要

利用压电响应力显微术开展了PMN-PT弛豫铁电单晶铁电畴结构的三维极化取向成像、畴结构的不均匀性及极化状态稳定性机理的研究.揭示了纳米尺度畴结构的不均匀性源于纳米尺度极性微区的相互作用和无规场之间的共同调制,而单晶表面屏蔽电荷机制主要源于大气环境下水的溶解性吸附,该机制对PMN-PT单晶中畴状态的稳定性及材料最佳性能的发挥起着重要作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李国荣	中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室	49	676	14.0	24.0
2	曾华荣	中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室	17	128	6.0	11.0
3	殷庆瑞		49	684	15.0	24.0
4	初瑞清	中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室	7	72	4.0	7.0
5	罗豪	中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室	6	109	4.0	6.0
6	余寒峰	中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室	4	25	3.0	4.0