Yb掺杂C60薄膜的x射线光电子能谱研究

• 作者: 何丕模 何少龙 吕斌 张寒洁 徐亚伯 李宏年 李海洋 鲍世宁
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: C60的Yb填隙化合物薄膜 x射线光电子能谱 Yb价态
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 915-921
• 页数: 7页
• 分类号: O4
• 字数: 4425字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.03.050

摘要

在超高真空系统中制备了C60的Yb填隙化合物薄膜.用x射线光电子能谱研究了Yb和C60结合过程中C1s,Yb4f和Yb4d的变化.利用Yb4f和C1s的谱峰强度确定出相纯样品的化学组分接近Yb2.75C60,这一结果与晶体x射线衍射结果一致.Yb4f和Yb4d的峰形与峰位表明化合物中Yb的价态为Yb2+.相纯样品(Yb2.75C60)的C1s峰位相对于纯C60向低结合能方向移动约0.5eV.C1s结合能减小说明有Yb6s电子转移到C60的最低未充填分子轨道能带上.结合能变化大小及峰宽的具体数值为进一步在薄膜样品上研究Yb2.75C60提供了表征样品的手段.