基于单总线温度检测的接口时隙分析

• 作者: 周伟 周冬婉
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: DS18S20 单总线 时隙 单总线通信协议 温度检测
• 年，卷（期）: 2004,（17）
• 所属期刊栏目: 监测与分析
• 页码范围: 86-88
• 页数: 3页
• 分类号: TP336
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2004.17.033

摘要

首先以DS18S20为例介绍了单总线技术的原理和信号处理方式,然后阐述了单总线技术的通信协议,并对单总线器件与微处理器间的通信进行接口时序分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周伟		62	430	12.0	18.0
2	周冬婉		2	22	2.0	2.0