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TI计划推出65nm工艺技术的样片
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德州仪器公司
65nm工艺
半导体制造工艺
数字功能
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65nm CMOS工艺时钟发生器的设计与实现
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65nm的互连线工艺灵敏度分析
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65 nm 工艺 SRAM 低能质子单粒子翻转实验研究
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电子元器件应用
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工学
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德州仪器公司
65nm工艺
半导体制造工艺
数字功能
年,卷(期)
2004,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
J003
页数
1页
分类号
TN305
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语种
DOI
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德州仪器公司
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半导体制造工艺
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研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子元器件应用
主办单位:
中国电子元件行业协会
出版周期:
月刊
ISSN:
1563-4795
CN:
开本:
大16开
出版地:
西安市科技路37号海星城市广场B座240
邮发代号:
创刊时间:
1999
语种:
chi
出版文献量(篇)
5842
总下载数(次)
7
总被引数(次)
11366
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