氧化锌中的本征点缺陷对材料光电性能的影响

• 作者: 朱大中 沈相国 章炜巍
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: ZnO薄膜 本征点缺陷 本征n型 p型ZnO 绿光
• 年，卷（期）: 2004,（9）
• 所属期刊栏目: 本期专题:半导体材料
• 页码范围: 79-82
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.2|O474|O482.3
• 字数: 5601字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-023X.2004.09.024

摘要

ZnO薄膜中的本征点缺陷对材料的电学、发光性能有着至关重要的影响.目前,对本征点缺陷的研究是ZnO领域的一大热点,也是实现ZnO基光电器件的关键技术之一.本文结合最新研究,扼要综述了本征点缺陷的电荷特性、对本征ZnO为n型的作用机理、对p型ZnO制备的影响及点缺陷对薄膜绿光发光的贡献.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱大中	浙江大学信电系微电子技术与系统设计研究所	43	188	8.0	11.0
2	沈相国	浙江大学信电系微电子技术与系统设计研究所	9	37	3.0	5.0
3	章炜巍	浙江大学信电系微电子技术与系统设计研究所	2	22	2.0	2.0