CP-Nb-Cr/Cu-Cd电触头材料的组织结构与使用性能研究

• 作者: 崔玉胜 王岩 甄良 邵文柱
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电触头 粉末冶金 电接触性能 显微组织
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 电功能材料及其应用
• 页码范围: 893-897
• 页数: 5页
• 分类号: TG141
• 字数: 4651字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2004.z1.251

摘要

通过粉末冶金方法制备了一种新型的铜基电触头材料--CP-Nb-Cr/Cu-Cd--并对该材料在中等强度电流条件下的使用性能进行了研究.结果表明,该电触头材料基本满足63～250A电流范围内交流接触器对电接触性能的综合要求.试后组织结构的观察表明,在电弧作用条件下,CP-Nb-Cr/Cu-Cd电触头表面存在大量的裂纹并且形成了一层和基体结构不同的工作层.裂纹在电触头表面和连通、扩展和向材料内部侵入的过程对电触头的使用状态起到决定作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王岩	哈尔滨工业大学材料学院	100	727	13.0	23.0
2	邵文柱	哈尔滨工业大学材料学院	22	230	8.0	15.0
3	甄良	哈尔滨工业大学材料学院	53	709	15.0	25.0
4	崔玉胜	哈尔滨工业大学材料学院	6	47	3.0	6.0