一种数字IC测试系统的设计

• 作者: 常羽飞 廉海涛 张克农 王红雨 赵云鹏
• 来源期刊: 电子产品世界
• 关键词: 数字集成电路测试 功能测试
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 67-69
• 页数: 3页
• 字数: 766字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2004.03.022

摘要

给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案.该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张克农		7	32	4.0	5.0
2	王红雨		3	31	3.0	3.0
3	赵云鹏		3	22	3.0	3.0
4	廉海涛		3	112	3.0	3.0
5	常羽飞		2	17	2.0	2.0