大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

• 作者: 何宝平 周辉 姚育娟 彭宏论 李永宏 林东生 耿斌 贺朝会 陈雨生
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测试方法 总剂量效应 大规模集成电路
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质：结构、热学和力学性质
• 页码范围: 194-199
• 页数: 6页
• 分类号: TN4
• 字数: 4130字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.01.036

摘要

提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法.在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流的变化情况,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理.给出了大规模集成电路:静态随机存取存储器(SRAM)、电擦除电编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器(FLASH ROM)和微处理器(CPU)的60Co γ总剂量效应实验的结果.