A/D转换器有效位数的测试

• 作者: 郑毅
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 数据采集 有效位数 量化 A/D转换器
• 年，卷（期）: 2004,（13）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TP335+.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2004.13.020

摘要

重点介绍了A/D有效位数的评估方法及其条件,讨论了数据采集的量化理论,分析了如何有效地得到系统有效位数的原理和方法,以及实际测试时的测试方法和正确的测试设备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑毅	电子科技大学电子工程学院	7	22	3.0	4.0