利用双载流子四陷阱模型解释Zn:Fe:LiNbO3晶体记录过程中的自擦除现象

• 作者: 孙秀冬 孟庆鑫 宫德维 张建隆
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 双载流子四陷阱模型 自擦除 电子-空穴竞争 角度复用
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 唯象论的经典领域
• 页码范围: 1788-1792
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 4003字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.06.033

摘要

比较了掺Fe量相同的两种晶体Fe:LiNbO3和Zn:Fe:LiNbO3的光折变性能,并且给出了Zn:Fe:LiNbO3晶体光电导和衍射效率与入射总光强的关系.在Zn:Fe:LiNbO3晶体二波耦合实验中观察到衍射效率随记录时间的增长先增加,达到饱和后又逐渐减小的自擦除现象,并采用光折变双载流子四陷阱模型对该现象加以解释.在此基础上选择合适的曝光时序,利用角度复用技术在该晶体中进行体全息存储,并在同一点上存入30幅图像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟庆鑫	哈尔滨工业大学应用物理系	292	2385	24.0	33.0
2	孙秀冬	哈尔滨工业大学应用物理系	81	674	15.0	22.0
3	张建隆	哈尔滨工业大学应用物理系	11	37	5.0	6.0
4	宫德维	哈尔滨工业大学应用物理系	5	20	2.0	4.0