Bi4-xLax Ti3O12-SrBi4-y Lay Ti4O15共生结构铁电材料拉曼光谱研究

• 作者: 朱骏 毛翔宇 陈小兵
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Bi44Ti3O12-SrBi4Ti4O15 La掺杂 声子模 拉曼频移
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质：电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 3929-3933
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 4096字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2004.11.057

摘要

在常温下,对La掺杂共生结构铁电陶瓷Bi4-xLaxTi3O12-SrBi4-yLayTi4O15[BLT-SBLT(x+y),x+y=0.00,0.25,O.50,0.75,1.00,1.25,1.50]进行了拉曼光谱研究.结果表明,在掺杂量低于0.50时,La只取代类钙钛矿层中的Bi,当掺杂量高于0.50后,部分La开始进入(Bi2O2)2+层.La取代(Bi2O2)2+层中的部分Bi以后,(Bi2O2)2+层结构发生变化,原有的绝缘层和空间电荷库的作用减弱,导致材料剩余极化下降.La掺杂量增至1.50时,样品出现弛豫铁电性,这与30 cm-1以下模的软化相对应,说明La掺杂可引起材料的结构相变.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛翔宇	扬州大学物理科学与技术学院	32	117	7.0	9.0
2	陈小兵	扬州大学物理科学与技术学院	56	224	8.0	11.0
3	朱骏	扬州大学物理科学与技术学院	30	125	7.0	9.0