利用光纤Bragg光栅测量压电晶体的特性曲线

• 作者: 吴飞 李志全 蔡璐璐
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤光栅 压电晶体 电压
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 短文
• 页码范围: 111-112,124
• 页数: 3页
• 分类号: TN2
• 字数: 1609字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2004.01.028

摘要

应用逆压电效应,在低频直流条件下,提出利用光纤Bragg光栅测量压电晶体的特性曲线.推导出了Bragg反射波长λB随应力变化的关系式,并设计了合理的结构以直接测量PZT的位移量.通过实际测量给出的PZT电压-位移曲线表明:该系统测量方法结构简单,测量精度高,能进行实时测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志全		201	1342	17.0	24.0
2	吴飞		52	433	12.0	18.0
3	蔡璐璐		23	127	5.0	10.0