氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析

• 作者: 巴维真 常爱民 李志军 简家文 赵青
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: YSZ 微波烧结 复阻抗 电导率
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 电功能材料及其应用
• 页码范围: 936-938
• 页数: 3页
• 分类号: TQ174|TM911|O441.6
• 字数: 2276字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2004.z1.261

摘要

研究了8mol%Y2O3掺杂ZrO2(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300～850℃温度范围内的交流复阻抗谱,获得了该材料的温度-离子电导率曲线,并与常规烧结的陶瓷体进行了比较.结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿,常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿.击穿后晶界电阻消失,离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定.在击穿温度点以下,陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升,即曲线呈上升～下降～上升趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常爱民	中国科学院新疆理化技术研究所	29	379	11.0	18.0
2	简家文	电子科技大学微电子与固体电子学院	15	241	8.0	15.0
3	赵青	中国科学院新疆理化技术研究所	23	224	9.0	14.0
4	巴维真	中国科学院新疆理化技术研究所	25	201	8.0	13.0
5	李志军	新疆大学物理系	10	13	2.0	3.0