数字信号处理器芯片核NDSP25的可测试性设计

• 作者: 白永强 薛静
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: NDSP25芯片核 可测试性设计 内建自测试
• 年，卷（期）: 2004,（15）
• 所属期刊栏目: 开发研究与设计技术
• 页码范围: 169-171
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 4462字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2004.15.066

摘要

介绍了可测试性设计的一般方法,着重讨论了NDSP25数字信号处理器芯片核的可测试性设计策略,以及可测试性设计的实现,并对可测试性设计的结果进行了统计和分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白永强	西北工业大学研究生院	4	24	3.0	4.0
2	薛静	西北工业大学研究生院	27	155	7.0	11.0