基于Twain接口的AOI系统

• 作者: 刘万春 潘云东 邹传瑜
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: AOI Twain 颜色空间 PCB 多参考比较法
• 年，卷（期）: 2004,（20）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 177-179
• 页数: 3页
• 分类号: TP391
• 字数: 3339字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2004.20.070

摘要

以工业PCB检测为研究对象,建立了一种基于Twain接口的新型AOI系统.重点研究了Twain接口的管理、颜色空间的选取和PCB瑕疵检测的方法.结合实际应用对如何提高检测速度和检测效率进行了较为深入的探讨,实验结果验证了该系统的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘万春	北京理工大学信息科学技术学院	39	645	13.0	24.0
2	邹传瑜	北京理工大学信息科学技术学院	1	2	1.0	1.0
3	潘云东	北京理工大学信息科学技术学院	3	5	2.0	2.0