IEEE754标准浮点测试向量的生成

• 作者: 何立强
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE754 测试 测试向量 差错覆盖率 浮点功能部件
• 年，卷（期）: 2004,（19）
• 所属期刊栏目: 基金项目论文
• 页码范围: 38-39,64
• 页数: 3页
• 分类号: TP393.06
• 字数: 5175字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2004.19.016

摘要

介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法,讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率,并给出了对该方法的一些改进措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何立强	中国科学院计算技术研究所	4	37	4.0	4.0