缺陷对红外测温反推内壁温度的影响分析

• 作者: 孙丰瑞 杨立 沈立华 范春利
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外测温 缺陷 对流换热 辐射
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 红外应用
• 页码范围: 250-253
• 页数: 4页
• 分类号: TN219
• 字数: 2714字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2005.03.016

摘要

利用红外热像仪获得外壁温度,在简化的一维模型下反推内壁温度.分别分析了壁内存在缺陷,考虑缺陷内的空气对流换热及表面辐射对反推内壁温度的影响.反推的内壁温度大小与缺陷厚度成线性变化,而随着缺陷内介质导热系数的增加成非线性下降趋势,缺陷位于壁内时位置的影响可忽略.考虑缺陷内空气对流换热的影响下得出的温度与纯导热条件下得出的温度存在较大误差,辐射的影响可以忽略不计.结论对于实际工程中准确确定内壁温度有一定的指导作用.