电晕对绝缘性能危害的探讨

• 作者: 彭光辉 王小波 王强
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 电晕 击穿电压 失效 探讨
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 19-21
• 页数: 3页
• 分类号: TM851
• 字数: 1786字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2005.02.002

摘要

在特定的工作环境中,电晕是一种不易察觉而又普遍存在的放电现象,它对产品的损坏是一个缓慢的侵蚀过程,并最终导致产品完全失效.文章主要介绍了电晕产生的机理以及电晕对产品绝缘性能产生的危害,分析了在产品设计中如何避免电晕的产生以及如何提高产品的抗电晕能力,并探讨了关于局部放电测量的基本原理与试验方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王强	中国电子科技集团公司第四十研究所	67	330	10.0	17.0
2	王小波	中国电子科技集团公司第四十研究所	10	30	4.0	5.0
3	彭光辉	中国电子科技集团公司第四十研究所	5	17	2.0	4.0