一种基于嵌入式微处理器内核模块的测试

• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 系统级芯片 知识产权(IP) 微处理器核 内建自测试
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 页码范围: 66-69
• 页数: 4页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文

摘要

基于可复用的嵌入式IP内核模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战.文章针对IP内核模块测试所面临的技术难点,介绍了IP核模块实现测试所需要构建的硬件环境和通用结构,并以嵌入ARM微处理器核的SoC为例,提出了具体的测试解决方案.