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摘要:
对三沟道BCCD(bulk charge-coupled device)在近红外光区的光电特性进行了研究.结果表明,锗制的三沟道BCCD不能在近红外光区实现多光谱成像.通过理论分析,找到了一种能保证BCCD在近红外光区工作的衬底材料应满足的吸收曲线.数值模拟结果表明:利用这种新材料制成的三沟道BCCD,其光敏特性曲线可以分别在1.0,1.1和1.26μm处出现最大值.
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文献信息
篇名 三沟道体电荷耦合器件在近红外光区光电特性的数值模拟
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 体电荷耦合器件 光敏特性 多光谱成像
年,卷(期) 2005,(5) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1015-1019
页数 5页 分类号 TN386.5
字数 3321字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2005.05.031
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 宋敏 大连民族学院光电子技术研究所 24 445 9.0 21.0
2 郑亚茹 辽宁师范大学物理系 30 308 7.0 17.0
3 王玉新 辽宁师范大学物理系 53 127 5.0 9.0
4 张颖 辽宁师范大学物理系 20 29 2.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
体电荷耦合器件
光敏特性
多光谱成像
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
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8
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