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摘要:
分析了发光二极管阵列上隔离沟槽的理想尺寸.采用湿法腐蚀方法对金属层、p-GaP层及多层AlGaInP进行了逐层腐蚀,完成了宽2 μm深6 μm的上隔离沟槽的制作.腐蚀后的上隔离沟槽边缘平整,其深度和宽度可以解决注入电流在相邻像素之间产生的干扰问题.
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文献信息
篇名 发光二极管阵列中上隔离沟槽的设计与制备
来源期刊 微细加工技术 学科 工学
关键词 微显示器件 发光二极管阵列 隔离沟槽 湿法腐蚀 欧姆接触 AlGaInP GaP
年,卷(期) 2005,(4) 所属期刊栏目 微机械加工技术
研究方向 页码范围 76-80
页数 5页 分类号 TN31
字数 2754字 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
微显示器件
发光二极管阵列
隔离沟槽
湿法腐蚀
欧姆接触
AlGaInP
GaP
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微细加工技术
双月刊
1003-8213
43-1140/TN
大16开
湖南省长沙市
1983
chi
出版文献量(篇)
672
总下载数(次)
2
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