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摘要:
X射线成像系统点扩展函数是影响X射线成像空间分辨率和密度分辨率的决定性因素,在系统分析X射线成像物理过程基础上,建立了X射线成像系统点扩展函数的一种数学解析模型,推导出了射束有效宽度计算公式,最后通过实验验证了模型的正确性.该模型为X射线成像系统空间分辨率和密度分辨率的初步设计和评定提供了理论依据,可作为X射线图像恢复算法中模糊函数的先验信息.
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文献信息
篇名 X射线成像系统点扩展函数理论模型及其实验验证
来源期刊 光学技术 学科 工学
关键词 X射线成像 点扩展函数 射束有效宽度 空间分辨率 密度分辨率
年,卷(期) 2005,(1) 所属期刊栏目 光学测量
研究方向 页码范围 104-106
页数 3页 分类号 TL816.1
字数 2371字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1002-1582.2005.01.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 路宏年 北京航空航天大学机械制造及自动化学院 70 784 17.0 24.0
2 蔡慧 北京航空航天大学机械制造及自动化学院 3 21 2.0 3.0
3 邵军明 北京航空航天大学机械制造及自动化学院 5 32 4.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
X射线成像
点扩展函数
射束有效宽度
空间分辨率
密度分辨率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学技术
双月刊
1002-1582
11-1879/O4
大16开
北京市海淀区中关村南大街5号
2-830
1975
chi
出版文献量(篇)
4591
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6
总被引数(次)
42622
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