椭偏光度法研究溶胶-凝胶SiO2薄膜的光学性能

• 作者: 吴广明 周斌 徐超 沈军 肖轶群 薛辉
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 溶胶-凝胶工艺 椭圆偏振光谱仪 光学常数 微结构
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 页码范围: 503-506
• 页数: 4页
• 分类号: O484
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2005.06.007

摘要

用溶胶-凝胶工艺在碱性、酸性催化条件下制备具有纳米多孔结构的SiO2薄膜.用反射式椭圆偏振光谱仪测试薄膜的椭偏参数,并用Cauchy模型对椭偏参数进行数据拟合,获得了溶胶-凝胶SiO2薄膜光学常数在300～700 nm波段的色散关系.用场发射扫描电子显微镜FE-SEM研究了薄膜表面微结构,并讨论表面微结构与光学性能间的关系.结果表明:制备条件所引起的薄膜微结构差异对光学常数的色散关系变化趋势无影响;薄膜光学常数的大小则与微结构有关,折射率大小与薄膜孔洞率成反比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐超	同济大学波耳固体物理研究所	168	2076	23.0	37.0
2	周斌	同济大学波耳固体物理研究所	140	1582	22.0	31.0
3	沈军	同济大学波耳固体物理研究所	199	2285	26.0	36.0
4	吴广明	同济大学波耳固体物理研究所	118	1607	22.0	32.0
5	肖轶群	同济大学波耳固体物理研究所	10	149	8.0	10.0
6	薛辉	同济大学波耳固体物理研究所	7	103	6.0	7.0