工业CT图像的伪影成因和校正方法综述

• 作者: 张丽 谷建伟 邢宇翔 陈志强 高河伟
• 来源期刊: CT理论与应用研究
• 学科: 工学
• 关键词: 工业CT 无损检测 图像 伪影校正
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: CT理论方法
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 3626字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4140.2005.03.005

摘要

X射线CT在工业无损检测、医学、安检等领域发挥着重要的作用.但在实际检测中,CT系统重建的图像存在各种伪影.本文从CT的系统整体设计、X射线管和探测器等角度综述了影响伪影形成的各种因素,并对每种伪影的成因作了归纳;针对这些伪影,跟踪近些年文献中主要的校正方法作了介绍,并对这些校正方法作了比较、讨论和小结.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈志强	清华大学工程物理系	124	1202	18.0	29.0
2	张丽	清华大学工程物理系	123	1363	19.0	31.0
3	邢宇翔	清华大学工程物理系	34	347	12.0	18.0
4	高河伟	清华大学工程物理系	8	103	5.0	8.0
5	谷建伟	清华大学工程物理系	5	121	5.0	5.0