WCDMA与TD—SCDMA系统共存时的干扰研究

• 作者: 宋明艳 田铁红 陈丽燕
• 来源期刊: 无线电技术与信息
• 学科: 工学
• 关键词: TD—SCDMA系统 频率干扰 发射机 WCDMA基站 接收机 同频 共存 衡量 表现 杂散辐射
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: TN92

摘要

一、WCDMA基站和TD—SCDMA基站频率干扰介绍.1．频率干扰原理分析,工作于不同频率的系统产生共存干扰是由于两个系统内发射机和接收机特性的不完善造成的。干扰系统的发射机的对外辐射表现为发射机的ACLR与杂散辐射特性，被干扰系统的接收机的被干扰表现为接收机的ACS与阻塞特性。这两个因素共同作用的结果可用ACIR来衡量，