氢化物发生-原子荧光光谱法测定地球化学样品中痕量铋

• 作者: 于兆水 张勤 李淑娟
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 铋 地质样品 氢化物发生 原子荧光光谱法
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 217-220
• 页数: 4页
• 分类号: O614.532|O657.31
• 字数: 2730字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2005.03.012

摘要

样品经王水溶解后,加入KMnO4溶液氧化,草酸除去过量KMnO4后的体系,直接用氢化物发生-原子荧光光谱法测定地质样品中痕量Bi.方法使Au、Pd、As、Sb、Se、Te等元素的允许量大为提高,减少了不同测定体系中共存元素对Bi测定的干扰.方法的检出限(6s)为0.042 μg/g,精密度(RSD,n=12)为1.88%～5.57%.经国家一级地质标准物质验证,测定值与标准值吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勤	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	83	1441	20.0	35.0
2	于兆水	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	24	124	7.0	10.0
3	李淑娟	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	3	15	2.0	3.0