X射线荧光光谱法定性和定量筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴

• 作者: 宋武元 肖前 郑建国
• 来源期刊: 检验检疫科学
• 学科: 地球科学
• 关键词: X射线荧光光谱 电子电气产品 有毒有害元素
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: N

摘要

本文提出了用X射线荧光光谱法定性和定量筛选电子电气设备中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的一种新的测试方法.方法研究了金属材料基体、聚合物基体和不同电子产品等对待测元素的基体影响,研究了基体、元素间的谱线重叠所产生的光谱干扰.考察了样品大小不同和样品厚度不同对待测元素测试结果的影响,并选用Rh线的康普顿散射线作内标来校正这些非光谱干扰的影响.方法选用有证标准物质制作工作曲线,各待测元素的浓度范围从0.1mg/Kg到200rg/Kg,均获得非常好的线性关系,选用有证标准物质BCR-681,并设置100s测量时间来计算铅、汞、铬、镉和溴的最低检出限,其检出限分别为PbL(0.64mg/Kg、Hg L(0.51mg/Kg、Cr K(0.78mg/Kg、Cd K(1.10mg/Kg和Br K(0.27mg/Kg.以BCR-681作为实际样品进行测试,其结果与标准推荐值非常吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋武元		14	34	4.0	5.0
2	郑建国		19	105	6.0	9.0
3	肖前		5	23	2.0	4.0