GIS中SF6气体泄漏光学检测新技术

• 作者: 吴变桃 尹毅 肖登明
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: SF6 气体泄漏 光学检测
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 116-118
• 页数: 3页
• 分类号: TM835
• 字数: 3386字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2005.02.012

摘要

介绍了3种可用于定位检测GIS中SF6气体泄漏的光学成像技术.这些技术能使操作者看到泄漏气体清晰图像,快速识别泄漏源:其远距离识别和瞬时检测能力使检测者可以快速大范围地扫描GIS,泄漏能被立即识别.相对于传统的非在线检测和其它在线检测技术来说,光学成像技术在SF6气体泄漏检测方面,是一个比较大的突破.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖登明	上海交通大学电气系	136	1787	24.0	37.0
2	尹毅	上海交通大学电气系	87	1316	22.0	34.0
3	吴变桃	上海交通大学电气系	4	118	3.0	4.0