正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响

• 作者: 李玉芳 熊良钺 郭建亭
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 正电子湮没 Ni3Al Zw 水冷 空冷 扩散
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 909-912
• 页数: 4页
• 分类号: O57
• 字数: 2943字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2005.12.005

摘要

测量了在Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化处理后,在空冷和水冷条件下的正电子寿命谱.结果表明,Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化后,随即进行空冷时,随着Zr含量的增加,正电子在合金中的寿命谱特征参数降低,捕获率K降低.表明Zr原子扩散到晶界,并在晶界偏聚.而合金经高温均匀化后水冷时,合金的正电子寿命谱特征参数随着Zr含量的增加几乎没有变化.由于冷却速度较快,Zr原子来不及扩散到晶界上,而以固溶方式存在于Ni3Al基体中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭建亭	中国科学院金属研究所高温合金研究部	191	2106	25.0	34.0
2	熊良钺	中国科学院金属研究所高温合金研究部	14	63	4.0	7.0
3	李玉芳	中国科学院金属研究所高温合金研究部	11	91	4.0	9.0