半导体激光器特性测试中温度控制技术的研究

• 作者: 唐文彦 朱炜 杨明伟 许文海
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 激光技术 半导体激光器 自动测试 温度控制 比例积分控制
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: "全固态激光器"专集
• 页码范围: 554-558
• 页数: 5页
• 分类号: TN248.4
• 字数: 3588字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2005.04.014

摘要

温度特性是影响半导体激光器(LD)特性测试准确性的重要因素,对LD温度控制技术的研究有着重要的意义.在分析了LD的温度特性的基础上,提出了一种高稳定温度控制的设计方案,并从几个方面讨论了保证LD高稳定温度控制和保证温度信号检测、传输精度的方法.实验结果表明,在10℃～40℃范围内温度稳定度为±0.01℃,在25℃时稳定度达到士0.005℃,从而为LD的准确测试提供了有效的保证.此系统稍加改动即能广泛应用于各类LD的控温系统.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐文彦	哈尔滨工业大学机械电子系	110	1338	21.0	31.0
2	杨明伟	哈尔滨工业大学机械电子系	13	265	8.0	13.0
3	朱炜	哈尔滨工业大学机械电子系	13	203	9.0	13.0
4	许文海	哈尔滨工业大学机械电子系	15	291	9.0	15.0