光学经纬仪的光学测微器行差检定中应注意的几个问题

• 作者: 张卫东 王冬梅
• 来源期刊: 计量技术
• 关键词: 光学经纬仪 行差 检定
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 检定与规程
• 页码范围: 41-43
• 页数: 3页
• 字数: 2286字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2005.01.017

摘要

本文通过对仪器光学测微器(带尺显微镜)结构和其行差产生因素的分析以及对行差性质的阐述,说明应根据经纬仪的不同读数特点,适宜地选择行差检定的测量点和测量方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张卫东		15	21	3.0	4.0