X射线荧光光谱法快速测定生铁中硅、锰、磷、硫、砷

• 作者: 吴细平 谢超辉 钟伟
• 来源期刊: 江西冶金
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 生铁 粉末压片
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 理化检验
• 页码范围: 29-30
• 页数: 2页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1107字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2777.2005.03.011

摘要

建立了用粉末样品添加粘结剂压片,选择适宜的工作参数,X射线荧光光谱法测定生铁中硅、锰、磷、硫、砷等杂质元素含量的分析方法.方法快速、准确、成本低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴细平		5	3	1.0	1.0
2	钟伟		2	3	1.0	1.0
3	谢超辉		2	2	1.0	1.0