4 韩国KAIST首次澄清液晶结构缺陷原因

• 来源期刊: 光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 结构缺陷 清晰度 韩国科学技术院 微通道
• 年，卷（期）: gdjs_2005,（1）
• 页码范围: 46
• 页数: 1页
• 分类号: TN873.93

摘要

韩国技术研究机构近日首次研究得出液晶显示器表面上出现黑点，降低清晰度的液晶缺陷原因，进而提出了能够提高LCD清晰度的可行性理论依据。韩国科学技术院(KAIST)金万源教授研究小组与美国UC大学、中国重庆大学和德国乌尔姆大学(Universitat Ulm)共同研究的结果表明，出现液晶缺陷的原因取决于“微通道”的结构。