牙本质粘结界面纳米渗漏的激光扫描共聚焦显微观察

• 作者: 吴玮 张斌 赵三军 陈吉华
• 来源期刊: 临床口腔医学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 牙本质 纳米渗漏 激光扫描共聚焦镜
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 所属期刊栏目: 基础研究
• 页码范围: 718-720
• 页数: 3页
• 分类号: R378
• 字数: 1923字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-1634.2005.12.005

摘要

目的:观察三种牙科粘结剂邦多、SingleBond、Prime&Bond NT牙本质粘结界面纳米渗漏情况.方法:选取12个无龋磨牙,600目碳化硅砂纸在流水冲洗下预备出相同的牙本质粘结面玷污层.分别用三种粘结材料按使用说明进行粘结.激光扫描共聚焦显微镜(CLSM)测量截面下10 μm处荧光剂渗透的长度.结果:三种粘结剂牙本质粘结界面在CLSM下均观察到明显的纳米渗漏,其中邦多156.93±57.39 μm,SingleBond 97.76±39.03μm,Prime&Bond NT 56.41±29.15μm,三者之间均存在显著性差异.结论:牙科粘结剂牙本质粘结界面均存在不同程度的纳米渗漏.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈吉华	第四军医大学口腔医学院修复科	239	1756	18.0	25.0
2	张斌	第四军医大学口腔医学院修复科	60	319	10.0	14.0
3	赵三军	第四军医大学口腔医学院修复科	55	309	10.0	13.0
4	吴玮	第四军医大学口腔医学院修复科	6	71	4.0	6.0