星载BX1750A芯片抗单粒子翻转性能评估

• 作者: 杨钧
• 来源期刊: 上海航天
• 学科: 航空航天
• 关键词: 单粒子翻转 FOM方法 软件加固 占空比
• 年，卷（期）: shhtzyw_2005,（1）
• 页码范围: 52-56
• 页数: 5页
• 分类号: V446

摘要

用软件包和FOM方法分别计算了BX1750A芯片在三种太阳同步轨道以及不同宇宙环境下的单粒子翻转率.根据器件及单片机系统在轨单粒子翻转率与"零翻转"可靠度的关系,量化地评估了该芯片及所属系统应用于不同飞行任务时的抗单粒子翻转(SEU)性能.分析结果表明,BX1750A芯片抗单粒子效应的性能较高,可作为低太阳同步轨道3年或5年寿命卫星关键计算机系统的选用芯片.同时为确保系统SEU零失效,有必要采取软件和其他加固措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨钧		2	3	1.0	1.0