近衍射极限半导体激光束波面检测

• 作者: 刘宏展 刘立人 徐荣伟 栾竹 滕树云
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光通信 双剪切干涉仪 发散度 衍射极限
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 519-522
• 页数: 4页
• 分类号: TN929.13|O436.1|TN247
• 字数: 2314字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2005.04.018

摘要

在星间半导体激光通信系统中,如何检测发射光束波面的质量是个较难处理的问题,为了较好地解决这一问题,在简单介绍白光横向双剪切干涉仪的基础上,报道了用此干涉仪对近衍射极限半导体激光光束波面的检测,在此基础上推导出计算远场发散度的公式.实验测得近场光束的波高差为0.2λ,通过夫朗和费衍射求得光束的发散度仅为64.8μrad,这表明光束接近光学衍射极限.同时,表明双剪切干涉仪灵敏度高、实用性好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘立人	中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室	206	2115	24.0	35.0
2	栾竹	中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室	45	494	12.0	21.0
3	滕树云	中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室	15	141	8.0	11.0
4	徐荣伟	中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室	8	136	7.0	8.0
5	刘宏展	中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室	7	143	7.0	7.0