采用二级离散复镜像法分析同轴馈电微带天线的输入阻抗

• 作者: 刘其中 贺秀莲 龚书喜
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 微带天线 输入阻抗 二级离散复镜像法
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 579-583
• 页数: 5页
• 分类号: TN823.31
• 字数: 2744字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2005.04.021

摘要

采用基于二级离散复镜像法的矩量法,分析了同轴馈电的任意形状微带天线的输入阻抗.该方法采用二级离散复镜像方法求解空间域的格林函数,与直接数值积分方法相比,提高了计算格林函数的速度.采用简化的附加模基函数模拟贴片与探针相连处的电流分布,降低了计算的复杂度.计算了两个不同形状的微带贴片天线的输入阻抗,所得的计算结果与实验结果吻合良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	龚书喜	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	149	1100	16.0	23.0
3	贺秀莲	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	14	128	5.0	11.0