纵向与横向剖面电阻率变化关系物理模拟实验研究

• 作者: 吴子泉 李文 王成虎 程久龙
• 来源期刊: 地震研究
• 关键词: 走滑断层 纵、横向剖面 物理模拟 物性特征
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 248-251
• 页数: 4页
• 分类号: P315.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0666.2005.03.009

摘要

通过低阻立板的物理模拟实验,研究纵、横向剖面电阻率的变化特征,实验结果表明横向剖面法在探测走滑断层中具有明显优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程久龙	山东科技大学资源与环境工程学院	43	904	15.0	29.0
2	吴子泉		20	129	5.0	11.0
3	王成虎	中国地质大学工程技术学院	12	80	4.0	8.0
4	李文	山东科技大学资源与环境工程学院	2	5	1.0	2.0