多CCD拼接相机中图像传感器不均匀性校正

• 作者: 何昕 刘亚侠 杨会玲 王军 郝志航
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 不均匀性 校正 CCD拼接
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 光电技术应用
• 页码范围: 261-263
• 页数: 3页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 2284字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.03.027

摘要

CCD图像传感器不均匀特性是影响光电测量设备精度的一个重要因素.在分析了单片CCD图像传感器不均匀特性基础上,提出了多CCD拼接相机系统中不均匀特性的校正方法.大量实验结果表明,利用该校正方法不仅保持原图像的目标,而且简单快速,具有通用性,能够显著提高系统测量精度.该方法可行且对其他光电测量设备有参考意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王军	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	176	3989	26.0	60.0
2	何昕	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	128	1115	19.0	24.0
3	郝志航	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	63	965	19.0	28.0
4	杨会玲		7	84	6.0	7.0
5	刘亚侠	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	7	97	4.0	7.0