电感耦合等离子体-原子发射光谱法测定金属硅中铁含量的不确定度评估

• 作者: 于华 王斗文 韩大卫
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 金属硅 不确定度
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 93-96
• 页数: 4页
• 分类号: TB99
• 字数: 4035字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1158.2005.01.025

摘要

对电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)测定金属硅中铁杂质含量的不确定度进行了合成和评估.通过建立被测对象的函数关系式Fe%=f(p,q,r,…),对其中的影响因素p、q、r、…做全面地分析评定.在此基础上求得不确定度的合成量,保证ICP-AES测量系统检测结果的有效性和合理性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王斗文		12	49	4.0	6.0
2	韩大卫	大连理工大学管理学院	4	33	2.0	4.0
3	于华	大连轻工业学院数理系	8	22	3.0	4.0