X波段开口波导的互耦分析

• 作者: 王建中 陈士国
• 来源期刊: 制导与引信
• 学科: 工学
• 关键词: 互耦 矩量法 波导
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 天线技术
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: TN823
• 字数: 2474字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-0576.2005.04.010

摘要

单元间互耦的影响是高性能阵列天线中不可忽视的因素.采用矩量法对两个X波段开口波导单元间的互耦作了分析,测试它们在互耦影响下的参数,分析结果与实际测量值吻合较好.文中对两个开口波导间随距离及频率变化的互耦影响作了讨论.