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摘要:
单片集成电路采用低温焊料焊的封装方式,封装成品率不高,尤其是使用金锡焊料以后,低温烧结不合格率较高,针对这一情况,对生产工艺进行攻关,以解决此问题,力争使封装成品率提高到90%左右。
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面临问题
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玻璃焊料
封接
膨胀系数
氧化
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 金锡焊料低温焊料焊工艺控制
来源期刊 集成电路通讯 学科 工学
关键词 金锡焊料 烧结温度 烧结时间 低温焊料焊 低温烧结 焊料 工艺控制 封装方式 单片集成电路
年,卷(期) jcdltx_2005,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 8-11
页数 4页 分类号 TG42
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研究主题发展历程
节点文献
金锡焊料
烧结温度
烧结时间
低温焊料焊
低温烧结
焊料
工艺控制
封装方式
单片集成电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路通讯
季刊
大16开
安徽省蚌埠市06信箱
1983
chi
出版文献量(篇)
868
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16
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