NI和泰克 打造双赢共进的新局面——“2004设计、验证及测试论坛”圆满落幕

• 来源期刊: 测控自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 美国国家仪器中国有限公司 INSTRUMENTS NI 设计 论坛 测试 验证 2004年9月 图形化开发软件 双赢 技术研讨会 泰克示波器 运行操作 VIEW 专业人士 LAB
• 年，卷（期）: ckzdh_2005,（1）
• 页码范围: 18
• 页数: 1页
• 分类号: TP216

摘要

2004年9月——美国国家仪器中国有限公司(National Instruments，简称NI)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)于7、8两月联合在深圳、上海、南京、成都、西安、北京六地相继举办了一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛(简称DVTF 2004)”。会议期间双方公司各施所长．展示了最新的产品和技术．包括NI Lab—VIEW图形化开发软件在泰克示波器上的运行操作和相关的演示实例，吸引了总共近千名专业人士到场参与。