基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
推荐文章
基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
信号完整性
串扰
IR压降
超深亚微米
超深亚微米SOI NMOSFET中子辐照效应数值模拟
中子辐照
超深亚微米
SOI NMOSFET
数值模拟
超深亚微米集成电路可靠性技术
超深亚微米集成电路
可靠性
高k栅介质
金属栅
Cu/低k互连
超深亚微米工艺下基于热量分区的SoC热感知测试调度方法
超深亚微米
片上系统
热量分区
热感知测试调度
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 深亚微米IC超浅结的SIMS表征
来源期刊 质谱学报 学科 化学
关键词
年,卷(期) 2005,(z1) 所属期刊栏目 无机质谱
研究方向 页码范围 13-14
页数 2页 分类号 O657.63
字数 2083字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-2997.2005.z1.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王家楫 复旦大学材料科学系 25 114 6.0 9.0
2 瞿欣 复旦大学材料科学系 2 0 0.0 0.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2005(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
质谱学报
双月刊
1004-2997
11-2979/TH
大16开
北京275信箱65分箱中国原子能科学研究院
82-349
1980
chi
出版文献量(篇)
1837
总下载数(次)
1
总被引数(次)
12922
论文1v1指导