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摘要:
采用脉冲激光薄膜沉积技术制备了超薄连续的铱硅化合物肖特基势垒薄膜,利用X射线光电子能谱、原子力显微镜、半导体性能自动测量系统对薄膜进行了分析.获得的样品在界面层为单相IrSi3,并对人体红外辐射有很好的响应特性,通过I-V曲线估算样品的势垒高度约为0.116 eV.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 脉冲激光制备铱硅化合物长波红外敏感薄膜
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 脉冲激光沉积 铱硅化物 红外 肖特基势垒
年,卷(期) 2005,(3) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 223-225
页数 3页 分类号 TN213
字数 2171字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.03.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王瑞 中国空间技术研究院兰州物理研究所 14 81 3.0 9.0
2 杨建平 中国空间技术研究院兰州物理研究所 3 0 0.0 0.0
3 吴敢 中国空间技术研究院兰州物理研究所 3 0 0.0 0.0
4 陈学康 中国空间技术研究院兰州物理研究所 2 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
脉冲激光沉积
铱硅化物
红外
肖特基势垒
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
总被引数(次)
22967
论文1v1指导