运用遗传算法结合FFT进行多单元失效阵列校准

• 作者: 方大纲 王玲玲
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 遗传算法(GA) 快速傅立叶变换(FFT) 阵列失效校准
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 561-565
• 页数: 5页
• 分类号: TN822
• 字数: 2995字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2005.05.003

摘要

提出了利用遗传算法(GA)结合快速傅立叶变换(FFT)方法来进行阵列失效的校准,通过引入傅立叶变换的变换域和角域的映射,在变换域中利用FFT计算个体阵列的阵因子,减少了GA评估个体的时间,从而大大提高了失效校准的速度.以一个-35分贝副瓣电平的32单元阵列为例,校准一单元失效和二单元失效的时间都减少了至少一个数量级,算法也可应用于两个以上单元失效的情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方大纲	南京理工大学毫米波技术研究室	40	374	12.0	18.0
2	王玲玲	南京理工大学毫米波技术研究室	2	121	2.0	2.0